オリンパス ﾚﾝｽﾞ生産ﾗｲﾝ検査装置 新発売
オリンパス 小型レーザ干渉計システム 「KIF-20-DW」
レーザ干渉計による光学部品の品質検査は、参照レンズ（品質の基準となる高精度なレンズ）と検査対象の光学部品にレーザを当てることで発生する干渉縞により行います。新製品の「KIF-20-DW」は、デジタル一眼レフカメラ用のレンズなど高精度な光学部品の品質検査が目視検査から数値評価に移行しつつあることを受けて開発した新システムで、干渉縞数値化ソフト「KIF-FIA」を搭載したパソコンを標準装備することにより“数値”による品質検査を実現しました。また、参照レンズを本体に取り付けるためのマウント機構を新たに開発することにより、操作を簡易化し、耐久性を向上させています。
掲載月： 2009/05